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產(chǎn)品資料

繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀
產(chǎn)品型號(hào): A190359 16HV 高壓掃瞄治具
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、直流電阻、脈沖測(cè)試) 耐壓測(cè)試 (Hi-pot) 交流*大AC 5kV / 直流*大DC 6kV 高頻接觸檢查 (HFCC) 絕緣電阻測(cè)試(IR) *大5kV 直流電阻測(cè)量 (DCR) 直流電阻平衡功能 (DCR Balance) 脈沖測(cè)試 (IWT) 波形取樣率 (200MHz) 崩潰電壓分析模式的2種判定 面積比較 (


繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀  的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
  • 五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、直流電阻、脈沖測(cè)試)
  • 耐壓測(cè)試 (Hi-pot)
    • 交流*大AC 5kV / 直流*大DC 6kV
    • 高頻接觸檢查 (HFCC)
  • 絕緣電阻測(cè)試(IR)
    • *大5kV
  • 直流電阻測(cè)量 (DCR)
    • 直流電阻平衡功能 (DCR Balance)
  • 脈沖測(cè)試 (IWT)
    • 波形取樣率 (200MHz)
    • 崩潰電壓分析模式的2種判定
      • 面積比較 (Area)
      • 二次微分 (Laplacian)
    • 測(cè)試模式的7種判定
      • 面積差比較 (Differential Area)
      • 顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter)
      • 二次微分 (Laplacian)
      • 波峰差比 (ΔPeak%)
      • 諧振面積比 (ΔResonant Area)
      • 頻率差比 (Δ fr%)
  • Δ/Y型直流電阻 (Δ/Y DCR)
  • 脈沖測(cè)試比較 (IWT CMP)
  • 高速接觸檢查 (HSCC)
  • 開路檢查 (OSC)
  • 支援3302/3252感量、Q值量測(cè) (選購(gòu))
    • 電感 (Lx)
    • 電感平衡 (Lx Balance)
  • 人體接地保護(hù)功能 (GFI)
  • 支援*多40通道掃描測(cè)試
  • USB資料儲(chǔ)存及畫面擷取功能
  • 標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232介面
  • 操作介面 (英文、繁中、簡(jiǎn)中)
Chroma 19036為繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀結(jié)合了耐壓測(cè)試 (AC/DC)、絕緣電阻測(cè)量 (IR)、直流電阻測(cè)量 (DCR) 與脈沖測(cè)試( IWT) 于一臺(tái)單機(jī),擁有耐壓測(cè)試*高AC 5kV/DC 6kV、絕緣電阻測(cè)量*高DC 5kV、四線式直流電阻測(cè)量范圍2mΩ~2MΩ與脈沖測(cè)試*高DC 6kV,且擁有10通道可執(zhí)行一次多個(gè)待測(cè)物的掃描測(cè)試,搭配外接通道掃描盒*多可達(dá)到40通道的多組掃描測(cè)試,能節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本,并大幅提升生產(chǎn)效率。









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