光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: 光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): Model 3710-HS
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Chroma 3710HS整合了2D 幾何計(jì)算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學(xué)檢測(cè)功能，并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測(cè)試，是一套可針對(duì)使用者全方位客制化的光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)
光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 適用于 5 吋及 6 吋光伏芯片
- 高產(chǎn)能及 0.2% 以下之低破片率
- 2D 幾何計(jì)算檢測(cè)
- 芯片表面瑕疵檢測(cè)
- 微裂隙檢測(cè)
- 鋸痕檢測(cè)
- Resistively/Thickness 測(cè)試
- 壽命測(cè)試
- 簡(jiǎn)易的疑難排解程序
- 進(jìn)料 : 堆迭盒 / 卡式盒
- 分類 : 堆迭盒 / 卡式盒具有高產(chǎn)能及低破片率的優(yōu)點(diǎn)，非常適合用于進(jìn)料端，芯片可依使用者定義自動(dòng)分類到堆迭盒或卡式盒內(nèi)，獨(dú)特的自動(dòng)轉(zhuǎn)換技術(shù)可以大量節(jié)省人工轉(zhuǎn)換所需的系統(tǒng)待轉(zhuǎn)時(shí)間，并應(yīng)用高科技化的技術(shù)，確保光伏芯片輸送系統(tǒng)中重要關(guān)鍵之一的低破片率。
