光電元件點測機
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產(chǎn)品名稱: 光電元件點測機
產(chǎn)品型號: 58212-C
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
高速及高精度測試
支援水平結構、垂直結構和倒裝型芯片
支援到8英吋晶圓
支援不同電性測試范圍(LD或LED)
精準快速對位的掃描程序
支援多點測試功能(multi-site)
支援a(chǎn)uto load/unload
光電元件點測機
的詳細介紹
產(chǎn)品特色
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高速及高精度測試
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支援水平結構、垂直結構和倒裝型芯片
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支援到8英吋晶圓
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支援不同電性測試范圍(LD或LED)
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精準快速對位的掃描程序
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支援多點測試功能(multi-site)
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支援a(chǎn)uto load/unload
Chroma 58212-C是一臺精準控溫、多點測試、自動化的外延片(Epitaxial Wafer)/芯片(Chip)探測針光電應用測試設備，提供快速且準確的光電性能量測，廣泛的應用于雷射二極體(Laser Diode)和發(fā)光二極體(Light-Emitting Diode)等產(chǎn)品。
58212-C的點測系統(tǒng)采用了靈活的設計，提供不同類型的光電元件測試，包括水平結構(Lateral)、垂直結構(Vertical)和倒裝晶片(Flip Chip)；測試前的掃描程序可提供完整的晶圓掃描圖以保證測試的精度；**探針頭可防止待測物刮傷并確保每一個芯片接觸。
此機型提供多點測試(multi-site)設計，透過客制化的架構可支援一次下針測試多點位置，此設計可穩(wěn)定測試并節(jié)省測試時間，增加測試效能。
透過Chroma的獨特光學設計可取得**且穩(wěn)定快速的光學數(shù)據(jù)，如：光功率、中心波長、峰值波長、半峰全寬及色溫等。量測光學的同時也可獲取電性數(shù)據(jù)，如：順向電流、順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓、斜率效率、光電轉(zhuǎn)換效率等，以上光電測試皆在一次下針的時間內(nèi)完成。
軟體操作介面及先進的邏輯演算法，可使得生產(chǎn)效益大幅提升；完善的測試報表與良率統(tǒng)計供使用者輕松掌握生產(chǎn)狀況。
測試項目
電源特性量測
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閾值電流 Threshold Current (Ith)
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順向電壓 Forward Voltage (Vf)
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漏電流 Reverse leakage Current (Ir)
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逆向崩潰電壓 Reverse Breakdown (Vrb)
光特性量測
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光功率 Optical Power (Po)
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中心波長 Centre Wavelength (Wc)
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峰值波長 Peak Wavelength (Wp)
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半峰全寬 Full Width at Half Maximum (FWHM)
硬體設備
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自動化晶圓芯片點測設備
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電性測試模組
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光學測試模組
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選配ESD測試模組 (LED適用)
